陕西华星电子集团有限公司
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多层片式瓷介电容器
多层片式瓷介电容器
（１）产品外形尺寸
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尺寸规格 |
长度 (L) |
宽度 (W) |
厚度 (Tmax) |
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0402 |
1.0±0.05 |
0.5±0.05 |
0.55 |
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0603 |
1.6±0.15 |
0.8±0.15 |
0.90 |
|
0805 |
2.0±0.3 |
1.25±0.2 |
1.50 |
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1206 |
3.2±0.4 |
1.6±0.3 |
1.90 |
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1210 |
3.2±0.4 |
2.5±0.3 |
2.70 |
|
1812 |
4.5±0.5 |
3.2±0.4 |
3.50 |
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2225 |
5.7±0.5 |
6.5±0.6 |
3.50 |
（２）主要性能指标
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项目 |
性能指标要求 |
测试条件（25±2）℃ |
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电容量 |
符合标称电容量及其允许偏差范围 |
测试电压：（1.0±0.2）Vrms 测试频率：1类瓷：C≤1000pF时，f=（1±0.1）MHz；C＞1000pF时，f=（1±0.1）kHz； 2类瓷：C≤100pF时，f=（1±0.1）MHz；C＞100pF时，f=（1±0.1）kHz |
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损耗角正切 （tgδ） |
CC41：CR≥50pF，tgδ≤15×10-4 ；CR＜50pF，tgδ≤1.5（150/CR+7）×10-4 CT41：UR≤10V, tgδ≤1000×10-4；10V＜UR≤16V,tgδ≤500×10-4 ； 16V＜UR≤50V, tgδ≤350×10-4 ；50V＜UR≤2000V,tgδ≤250×10-4 |
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绝缘电阻（Ri） |
CC41：CR≤10nF IR≥104MΩ；CR＞10nF IR≥(100/CR)MΩ CT41：CR≤100nF IR≥104MΩ；CR＞100nF IR≥(100/CR)MΩ |
测试电压：额定电压 测试时间：2min±5s 测试温度：25℃±2℃ |
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介质耐电压 |
试验时无击穿、飞弧和可见损伤 |
测试电压：UR ≤ 200V 2.5UR UR=250V 2.0UR 500 ≤ UR ﹤ 1000V 1.5UR UR ≥ 1000V 1.2UR测试时间：5s±1s浪涌电流不超过50mA |